tematyka badań:
Aparatura umożliwia obrazowanie rozkładu komponentów chemicznych obecnych na powierzchni próbki. Wynikiem pomiaru jest zestaw obrazów powierzchni przedstawiających dystrybucję związków chemicznych będących źródłem specyficznych sygnałów obserwowanych w rejestrowanym widmie mas. Parametrem możliwym do wyznaczenia jest rozkład związków chemicznych na powierzchni próbki np. średni rozmiar domen lub lokalizacja szukanej substancji. Wykorzystanie wiązki Ar_n pozwala na odtworzenie profilu głębokościowego próbek organicznych z zachowaniem sygnału molekularnego.

aparatura:
Spektrometr mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu TOF SIMS V firmy IONTOF (Munster, Niemcy) wyposażony ciekłometaliczne, bizmutowe, działo jonowe o energii 30 keV. W trybie obrazowania układ pozwala na osiągnięcie lateralnej zdolności rozdzielczej poniżej 1 μm. Układ wyposażony jest również w dodatkowe działa jonowe: 2 keV działo cezowe, 2 keV działo gazowe (Ar, O2, Xe) oraz 20 keV działo wykorzystujące klastry argonu Ar_n (n~1500). Spektrometr wyposażony jest w układ grzania/chłodzenia próbki w zakresie temperatur -150℃  - 600℃. 
W układzie TOF SIMS istnieje możliwość połączenia trybu obrazowania z techniką profilowania głębokościowego dzięki czemu można uzyskać trójwymiarowy rozkład materiału w próbce. Aparat jest wyposażony w komory pozwalające na wprowadzanie próbek w atmosferze inertnej lub próżni.

usługi:
Oferta badań komercyjnych obejmuje obrazowanie: domen mieszanin polimerowych, urządzeń mikroelektronicznych, próbników mikroskopii SPM, pokryć typu SAM, powierzchni biosensorów, komórek, tkanek, mikromacierzy białek i DNA, etc.
Badane materiały stałe stabilne w warunkach próżniowych to m.in.: półprzewodniki, polimery, białka, komórki i tkanki (utrwalone), szkła, ceramika, metale, kompozyty i inne.

forma współpracy: usługi badawcze, prace zlecone cennikowe, konsorcjum, projekt, inne

rodzaj usług badawczych: pomiary, analiza, ekspertyza, synteza, interpretacja