• układy samoorganizujące się na powierzchniach półprzewodników typu metal-półprzewodnik;
• modyfikacja powierzchni w wyniku oddziaływania z wiązką jonowa. 

• skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) FEI Quanta 3D FEG wyposażony w kolumnę jonową FIB, 2012, FEI USA.

• materiały półprzewodnikowe (krzem, german, półprzewodniki AIII-BV), materiały nieprzewodzące (polimery, szkła), materiały przewodzące (stale, stopy), proszki, materiały biologiczne (komórki, fragmenty komórek organicznych – liposomy, synaptosomy, preparaty uwodnione);
• obrazowanie SEM w wysokiej próżni;
• obrazowanie SEM w trybie środowiskowym;
• obrazowanie SEM z równoczesnym podgrzewaniem preparatu do 1000 deg C;
• analiza składu chemicznego preparatu;
• mapowanie pierwiastkowe preparatu;
• identyfikacja fazy krystalicznej preparatu;
• precyzyjne trawienie jonowe powierzchni;
• precyzyjne nanoszenie przewodzących metalicznych ścieżek platynowych (ok. 100 nm szerokości);
• przygotowanie preparatu „lamelki” (cienkiej folii

Stosowane metody i techniki badawcze:

• metoda obrazowania SEM;
• metoda obrazowania ESEM;
• fluorescencja EDX i WDS;
• dyfrakcja elektronów EBSD;
• techniki jonowa FIB;
• technika nanoszenia platyny GIS.

• analiza SEM próbki – dostarczona próbka zostaje zobrazowana w mikroskopie SEM (tryb SE – elektrony wtórne oraz BSE – elektrony wstecznie rozproszone), następnie badany jest skład pierwiastkowy próbki za pomocą techniki EDX;
• przygotowanie „lamelki” pod TEM – powierzchnia dostarczonej próbki zostaje zabezpieczona warstwą platyny za pomocą układu GIS, następnie wycinana jest cienka folia za pomocą działa jonowego FIB, która zostaje przymocowana do specjalnego holdera miedzianego. Tak przymocowana próbka następnie jest pocieniana za pomocą jonów aż do grubości około 100 nm.